Vulnerability Details : CVE-2023-33017
Memory corruption in Boot while running a ListVars test in UEFI Menu during boot.
Vulnerability category: OverflowMemory Corruption
Products affected by CVE-2023-33017
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- cpe:2.3:o:qualcomm:sa8770p_firmware:-:*:*:*:*:*:*:*
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Exploit prediction scoring system (EPSS) score for CVE-2023-33017
0.04%
Probability of exploitation activity in the next 30 days
EPSS Score History
~ 7 %
Percentile, the proportion of vulnerabilities that are scored at or less
CVSS scores for CVE-2023-33017
Base Score | Base Severity | CVSS Vector | Exploitability Score | Impact Score | Score Source | First Seen |
---|---|---|---|---|---|---|
7.8
|
HIGH | CVSS:3.1/AV:L/AC:L/PR:L/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H |
1.8
|
5.9
|
NIST | |
7.8
|
HIGH | CVSS:3.1/AV:L/AC:L/PR:L/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H |
1.8
|
5.9
|
Qualcomm, Inc. |
CWE ids for CVE-2023-33017
-
The product copies an input buffer to an output buffer without verifying that the size of the input buffer is less than the size of the output buffer, leading to a buffer overflow.Assigned by:
- nvd@nist.gov (Primary)
- product-security@qualcomm.com (Secondary)
References for CVE-2023-33017
-
https://www.qualcomm.com/company/product-security/bulletins/december-2023-bulletin
Security Bulletins | Qualcomm DocumentationVendor Advisory
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