Vulnerability Details : CVE-2021-1934
Possible memory corruption due to improper check when application loader object is explicitly destructed while application is unloading in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT
Vulnerability category: Memory Corruption
Products affected by CVE-2021-1934
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Exploit prediction scoring system (EPSS) score for CVE-2021-1934
0.04%
Probability of exploitation activity in the next 30 days
EPSS Score History
~ 10 %
Percentile, the proportion of vulnerabilities that are scored at or less
CVSS scores for CVE-2021-1934
Base Score | Base Severity | CVSS Vector | Exploitability Score | Impact Score | Score Source | First Seen |
---|---|---|---|---|---|---|
7.2
|
HIGH | AV:L/AC:L/Au:N/C:C/I:C/A:C |
3.9
|
10.0
|
NIST | |
7.8
|
HIGH | CVSS:3.1/AV:L/AC:L/PR:L/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H |
1.8
|
5.9
|
NIST | |
8.4
|
HIGH | CVSS:3.1/AV:L/AC:L/PR:N/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H |
2.5
|
5.9
|
Qualcomm, Inc. |
CWE ids for CVE-2021-1934
-
The product calls free() twice on the same memory address, potentially leading to modification of unexpected memory locations.Assigned by: nvd@nist.gov (Primary)
References for CVE-2021-1934
-
https://www.qualcomm.com/company/product-security/bulletins/september-2021-bulletin
September 2021 Security Bulletin | QualcommVendor Advisory
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