Vulnerability Details : CVE-2020-11187
Possible memory corruption in BSI module due to improper validation of parameter count in Snapdragon Auto, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Mobile
Vulnerability category: Memory Corruption
Products affected by CVE-2020-11187
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Exploit prediction scoring system (EPSS) score for CVE-2020-11187
0.04%
Probability of exploitation activity in the next 30 days
EPSS Score History
~ 8 %
Percentile, the proportion of vulnerabilities that are scored at or less
CVSS scores for CVE-2020-11187
Base Score | Base Severity | CVSS Vector | Exploitability Score | Impact Score | Score Source | First Seen |
---|---|---|---|---|---|---|
7.2
|
HIGH | AV:L/AC:L/Au:N/C:C/I:C/A:C |
3.9
|
10.0
|
NIST | |
7.8
|
HIGH | CVSS:3.1/AV:L/AC:L/PR:L/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H |
1.8
|
5.9
|
NIST |
CWE ids for CVE-2020-11187
-
The product uses untrusted input when calculating or using an array index, but the product does not validate or incorrectly validates the index to ensure the index references a valid position within the array.Assigned by: nvd@nist.gov (Primary)
References for CVE-2020-11187
-
https://www.qualcomm.com/company/product-security/bulletins/february-2021-bulletin
February 2021 Security Bulletin | QualcommVendor Advisory
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